Técnicas de análise de superfícies

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O livro foi organizado e escrito por especialistas de grande reconhecimento em suas áreas de atuação. O texto oferece abordagens rigorosas de várias das principais técnicas de análise estrutural, química e de reações de superfícies, envolvendo fundamentos e aplicações. Os capítulos são cobertos de tecnologia de vácuo, espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) e por ultravioleta (UPS), espectroscopia de elétrons Auger (AES), espectroscopia de fotoabsorção, dessorção estimulada por elétrons e fótons, difração de fotoelétrons (PED) e de elétrons de baixa energia (LEED), e também microscopia de força atômica (AFM).

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